一. 測試目的

為了防止人體受到傷害, 單體內如有如下不良 : 螺絲松動, 未鎖, 零件腳裂錫, 未焊, 冷焊以及零件腳沒有插入孔內, 變壓器及零件絕緣度不佳或絕緣間隙距離不夠, 螺絲或其它異物掉落其中, FUNCTION測試無法偵測到異常之狀態(tài), 因而, 從保護產品質量和產品的安全規(guī)則要求的角度出發(fā), 必須要能檢測出這些不良, 靜態(tài)時, 單體內上述不良, 測試設備難找出, 只有將單體放置, 于振動系統(tǒng)中, 上述不良才可通過儀器設備測出來.

二. 測試原理

1. HI-POT TEST<高壓絕緣測試>: 利用高壓加于某一有絕緣程度的物體兩端, 通過漏電流的大小來判知物體之間絕緣性是否達到其絕緣的規(guī)格之要求, 在此, 我們是把單體的NEVTRAL與LINE短路接于高壓HV端, 輸出端與地線短路接向RETURN端, 加入高壓, 量測漏電流之大小, 來判定輸入端與輸出端, 以及輸入端對接地端絕緣度是否符合安全規(guī)格之要求,

2. GROUND CONTINVITY(接地測試)：對AC輸入端的GND及待測物的外殼灌入25A的電流,測得地線與外殼不能完全接觸,這樣測量得阻值會大于0.1Ω.只有通過GROUND CONTINUITY 測試才符合安規(guī)要求,

3. ARCING TEST(電弧測試)：當高壓的兩端靠很近時,會有尖端放電現象產生,此一現象經長時間的發(fā)生將可能對產品產生很大的傷害,較常見的現象有,當要組件兩端加高壓時,組件腳有一個未焊住,但與焊點有接觸,在振動時,偶爾脫開很小幅度,從而產生尖端放電或有些組件絕緣層有少許的刮傷,                                       

     ARCING定義：ARC為一物理現象,通常是指兩端點之間,因距離不夠或介質存在,          

     而在通電時產生的一個跳火現象,此跳火現象通常為非連續(xù)性的,

    ARCING偵測的目的：ARC的產生,并不會造成產品立即故障或對人體傷害的問題,但它會隨使用時的的增長,而造成兩端點間的絕緣日益破壞,進而造成機器的故障或對人體的危害,例如”SPS內的PCB的螺絲鎖緊,可能會因工作一段時間后,中間介質阻抗改變,造成浮動電位,進一步破壞PCB內部組件,或因ARC的產生,影響SPS的正常工作.因此ARC偵測的目的在防患未然,也可說是產品可靠度試驗,

ARC偵試線路原理：在ARC的定義列ARC為非連續(xù)性的,且約為1KHZ以上的PLUSE OR SPIKE 的高頻信號,因此ARC偵測線路原理如下：

   從被測物電流訊號經過兩回路,一為20—PASS  FILTER,20—PASS  FIELTER 

   是將電流信號轉換成RMS值,以便量測與判定,HI—PASS  FILTER則是當被測物電  

   流信號有ARC(高頻信號)產生時,將低頻濾掉,只留高頻信號,并經過量測與判別,以上為ARC偵測線路原理.

  ARC功能偵測計算：ARC的產生與兩端點間的電壓與距離有關,因此,ARC的產生

   通常在高壓時產生,也就是在波峰產生,并且ARC的高頻訊號也是載在波峰上故計算

   與量測方式都是以MHP：

例(一)：

      測試電壓AC1250VAC時：

      VP=1250*√2=1768V,以電阻500KΩ做介質

      GAP=兩端點距離調整至ARC剛好產生,約0.5MM左右

      因此,ARC電流為I=V/R=1768/1500K=3.5MAP

從上述來看,可奧姆定律來計算,但此為理論值,故我們必須考慮各種誤差的可能,如

GAP大小,電阻含   性等因素.

ARC等級說明:

9等級(0.0027A)

8等級(0.0055A)

7等級(0.0077A)

6等級(0.0100A)

5等級(0.0120A)

4等級(0.0140A)

3等級(0.0160A)

2等級(0.0180A)

1等級(0.0200A)

三 測試設備：

1. AC WITHSTANDING VOLTAGE TESTER(交流抗壓測試器)

2. AC 20W RESISTANCE TESTER(交流低電阻測試儀)

3. 振動機臺.

四.測試項目

   1.HI-POT TEST   (高壓測試)

   2.ARCING TEST   (高弧測試)

4. GROUND CONTINUITY TEST(接地測試)

5. INSULATION     (絕緣阻抗測試)

五.儀器操作(以7440為參考)

   1.WITHSTANDING  VOLTAGE  TESTER 選擇項目選按AC-W鍵：

           W-VOLT     1500V         （按數字鍵輸入）

           HIIMIT      13MA          (按數字鍵輸入)

           LO-LIMIT    8.0MA         (按數字鍵輸入)

           RAMP TIME    1S           (按數字鍵輸入)

           DWEU TIME    3S           (按數字鍵輸入)

           FREQVENCY   60HZ         (已設定好)

           ARC  SENSE     8           (已設定好)

           ARC  FAIL      ON          (按ENTER鍵切換ON/OFF)

           SCANNER SETCH             (未用)

           OFFSET                      (未設定)

           CONNECT     ON或OFF     (按ENTER鍵切換ON/OFF)

         按“V”鍵上下翻頁按‘ENTER’自動存儲,AC或DC請按ENTER鍵切換,設定一樣欲  知詳細設定,請參考使用者手冊.

         AC  LOW  RESISTANCE  TESTER

         先按：GROUNDING后

           CURRENT     25A       (已設定好)

           CURRENT      25A         (已設定好)

           VOLTAGE       8V          (已設定好)

           HI-LIMIT      0.1MΩ       (按數字鍵輸入)

           20-LIMIT       0MΩ        (按數字鍵輸入)

           PWELL TIME    2S          (按數字鍵輸入)

           FREQUENCY  60HZ或50HZ  (按數字鍵輸入)

           SCANNER       CH          (未用)

           OFFSET                      (未設定)

           CONNCT      ON或OFF     (按ENTER鍵切換)

           按‘ENTER’鍵結束

六.儀器檢查

   1.HI-POT的檢查

     治具原理:用一個固定電阻箱檢查HI-POT的輸出電壓,根據線路原理:U=IR,計算出治具檢

     測時之漏電流值,并作DAILY  CHECK之比較依據.

     按MEMORY鍵,輸入治具上標明之電流參數,接好FAIL SAMPLE按TEST,應聽到蜂嗚器的

     叫聲,且電流值應大于FAIL  SAMPLE上標明之漏電流值.

七.測試判定

  測試不良分以下幾種:

  BREAKDOWN            OVER FLOW+ARC:輸出過載, 電弧信號

  SHORT                  OVER FLOW :輸出過載

  HI LIMIT FAIL            OVER HI LIMIT SETTING : 電流過大失敗

  ARC FAIL                >10VS PEAK CURRENT DETECTING

  LO LIMIT FAIL           UNDER LO LIMIT SETTING : 電流過小失敗

  OPEN                   CHANGE LO : 直流電壓緩升充電電流

  OFL                     OVER FLOW :輸出過載